一种大尺度曲面工件轮廓精密测量方法专利登记公告

专利名称：一种大尺度曲面工件轮廓精密测量方法

摘要：本发明属于机械加工方法类，具体是一种大尺度曲面工件轮廓精密测量方法，具体是：建成一立方体框架，框架底部安装基准平面，将被测量曲面工件放置于基准平面上；在基准平面两侧安装龙门机构，龙门机构上装测量头，龙门机构的横向导轨和纵向导轨带动测量头在测量区域水平面内自由移动；在立方体框架顶部及两个正交侧面安装参考平面，当测量头测量曲面工件时，测量头同时测量距离顶部参考平面、两个正交侧面参考平面以及与下部被测曲面工件的距离；通过龙门机构带动测量头在立方体框架内移动测量实现对曲面工件不同位置的扫描测量，并通过被扫描各点的

专利类型：发明专利

专利号：CN201210011354.7

专利申请（专利权）人：浙江师范大学

专利发明（设计）人：俞红祥

主权项：一种大尺度曲面工件轮廓精密测量方法，其特征在于：建成一立方体框架，框架底部安装基准平面，将被测量曲面工件放置于基准平面上，保持待测量面向上；在基准平面两侧安装龙门机构，龙门机构上装测量头，龙门机构的横向导轨和纵向导轨带动测量头在测量区域水平面内自由移动；在立方体框架顶部及两个正交侧面安装参考平面，当测量头测量曲面工件时，测量头同时测量自身距离顶部参考平面、两个正交侧面参考平面以及与下部曲面工件被测点的距离；通过测量头与两个正交侧面参考平面的距离确定曲面工件被测量点在立方体框架内部的平面坐标位置，通过测量头

专利地区：浙江