恒温晶体振荡器晶体拐点自动化测量仪专利登记公告

专利名称：恒温晶体振荡器晶体拐点自动化测量仪

摘要：本发明涉及恒温晶体振荡器晶体拐点自动化测量仪，包括调试机架，其特征在于它还包括：1）拐点调试插座2）拐点调试板：3）射频控制板4）频率测量仪：5）控制电脑：向拐点调试板发送唯一的地址码，设置该地址的数字电位器的电阻为指定值，并读取每一个晶体振荡器的频率，根据测量得到的数据拟合晶体振荡器温频特性曲线，并计算得出晶体拐点时的电阻值。本发明与现有技术相比具有以下有益效果：使用本套调试设备，每套设备每次能调试160个OCXO，除了安放OCXO时，其他不占用任何人工。每次调试需要3到4小时左右，即每小时40个左右，

专利类型：发明专利

专利号：CN201210011512.9

专利申请（专利权）人：平湖市电子有限公司

专利发明（设计）人：林正其;李晓佳;林丽君

主权项：恒温晶体振荡器晶体拐点自动化测量仪，包括调试机架，其特征在于它还包括：1）拐点调试插座：多个待测试的晶体振荡器通过对应的拐点调试插座与拐点调试板电连接，每一个晶振的信号输出端通过拐点调试插座连接到拐点调试板上的信号输出端口，晶体振荡器的拐点电阻位置与拐点调试插座上的电阻调试线相连；2）拐点调试板：所述拐点调试板设有数字电位器，数字电位器的输出端与调试插座上的电阻调试线连接，拐点调试板通过并口线与控制电脑的输出端相连，每一块拐点调试板都有唯一的地址码；3）射频控制板：通过同轴电缆与拐点调试板的每一个晶振信号

专利地区：浙江