周期结构指定频率的本征分析方法专利登记公告

专利名称：周期结构指定频率的本征分析方法

摘要：本发明涉及周期结构指定频率的本征分析方法，包括步骤：A.建立考虑导体和介质损耗周期结构内的电磁场边值问题，通过有限元法的标准变分原理得到电磁场边值问题的泛函方程。B.采用四面体网格剖分求解域，并保证周期边界主面和从面上的网格匹配。C.选择基函数，将电场强度矢量在所有网格内用基函数展开，并运用里兹方法得到展开系数的矩阵方程。D.将展开系数的矩阵方程写成关于传播常数的线性广义本征方程。E.给定一个频率，求解线性广义本征方程，根据传播常数，得到与给定频率相对应的衰减常数和相位常数，通过后处理，得到互作用阻抗。F

专利类型：发明专利

专利号：CN201210014203.7

专利申请（专利权）人：电子科技大学

专利发明（设计）人：徐立;李斌;杨中海;朱小芳;李建清

主权项：周期结构指定频率的本征分析方法，其特征在于，包括以下步骤：A.建立考虑导体和介质损耗周期结构内的电磁场边值问题，通过有限元法的标准变分原理得到电磁场边值问题的泛函方程；B.采用四面体网格剖分求解域，并保证周期边界主面和从面上的网格匹配；C.选择基函数，将电场强度矢量在所有网格内用基函数展开，并运用里兹方法得到展开系数的矩阵方程；D.将展开系数的矩阵方程写成关于传播常数的线性广义本征方程；E.给定一个频率，求解线性广义本征方程，得到传播常数与电场展开系数；根据传播常数，得到与给定频率相对应的衰减常数和相位常

专利地区：四川