一种测量金属钚氧化百分比的方法专利登记公告

专利名称：一种测量金属钚氧化百分比的方法

摘要：一种测量金属钚氧化程度的方法，先测定被氧化的金属钚样品自然放射条件下17O(α，α′γ)17O(871keV)和14N(α，p)17O(871keV)反应的所发生的871keV特征γ射线峰位计数数值，然后利用17O(n，n′γ)17O(871keV)反应，通过加外中子源照射，增强被测试金属钚样品中17O(n，n′γ)17O(871keV)反应的能力，测得在加外中子源照射条件下被氧化的金属钚样品的871keV特征γ射线峰位计数数值，将在加外中子源照射条件下所测得的871keV特征γ射线峰位计数数值减去自然放

专利类型：发明专利

专利号：CN201210015567.7

专利申请（专利权）人：中国人民解放军第二炮兵装备研究院第六研究所

专利发明（设计）人：程金星;王庆波;刘军辉;王新赤;朱文凯;高缨

主权项：一种测量金属钚氧化百分比的方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：A、将纯氧化钚粉末与纯金属钚粉末混合为100克标准测试样品，进行871keV特征γ射线峰位计数数值测定，得到具有该确定重量百分比的氧化钚的金属钚871keV特征γ射线峰位计数数值w1；B、对步骤A中的所述100克标准测试样品加外中子源照射，同时进行871keV特征γ射线峰位计数数值测定，得到具有该确定重量百分比的氧化钚的金属钚在加外中子源照射条件下的871keV特征γ射线峰位计数数值w2；C、将步骤B中得到的在加外中子源照射条件下的871k

专利地区：北京