二维摆镜扫描的太赫兹被动式成像系统专利登记公告

专利名称：二维摆镜扫描的太赫兹被动式成像系统

摘要：本发明公开一种二维摆镜扫描的太赫兹被动式成像系统，该系统具体利用二维摆镜逐行逐点扫描实现对成像样品的太赫兹波段成像，其扫描速度、成像时间、系统成像最佳物距可调。该成像系统不仅具有成像空间分辨率高，信噪比大，温度分辨率高等特点，同时与基于主动方式的透射和反射太赫兹成像系统相比较，还具有结构简单紧凑，无需自带本地太赫兹振荡源，无需面阵探测器而只需单元探测器等优点。

专利类型：发明专利

专利号：CN201210019045.4

专利申请（专利权）人：中国科学院上海技术物理研究所

专利发明（设计）人：黄志明;童劲超;侯云;陆金星;黄敬国;张雷博;周炜;郁启华;沈学民;褚君浩

主权项：一种二维摆镜扫描的太赫兹被动式成像系统，它包括聚光透镜(1)、离轴抛物面反射镜(2)、中心有通光小孔的二维扫描摆镜(3)、平面反射镜(4)、太赫兹成像探测器(5)、前置信号放大器(6)和成像控制单元(7)，其特征在于：系统在工作时，由成像样品出射的太赫兹光经过聚光透镜(1)入射到离轴抛物面反射镜(2)汇集，经二维扫描摆镜(3)和平面反射镜(4)两次反射后通过通光小孔(3?1)被太赫兹成像探测器(5)接收，经过前置信号放大器(6)放大信号，由控制系统进行数据处理并进行伪彩色成像；在系统工作过程中，成像控制单

专利地区：上海