一种采用两台电子天平精确连续测量金属材料质量变化的方法专利登记公告

专利名称：一种采用两台电子天平精确连续测量金属材料质量变化的方法

摘要：一种采用两台电子天平精确连续测量金属材料质量变化的方法，在电子天平②上称量与电子天平①所称量的等质量的支架材料，并通过计算机记录电子天平②随时间的变化所测量的数据，得到一组数据2，数据2中的每个数据减去电子天平②测得的起始质量测量值，得到一组数据3，数据3是电子天平在不同测量时间时，可能的环境变化引起的起始测量数据的改变值。用电子天平①测量得到的数据1分别相应减去数据3，得到金属试样在实验环境中，质量随时间变化的数据。本发明的效果是可连续精确的监测并记录金属材料在实验环境中的质量，实验环境包括高温、腐蚀性

专利类型：发明专利

专利号：CN201210024282.X

专利申请（专利权）人：南昌航空大学

专利发明（设计）人：冯长杰;李明升;江鸢飞;周雅;杜楠

主权项：?一种采用两台电子天平精确连续测量金属材料质量变化的方法，其特征是采用两台型号相同的电子天平①和电子天平②来实现，两台电子天平均与计算机相连，同时同步连续监测并记录这两台天平测得的数据，将这两台电子天平置于相同的环境中，通过支架将金属试样置于实验环境中，支架材料在实验环境中质量不变化，通过天平①和计算机，连续监测并记录支架和金属试样在实验环境中的质量，得到一组数据①，在电子天平②上称量与电子天平①所称量的等质量的支架材料，并通过计算机记录电子天平②随时间的变化所测量的数据，得到一组数据②，数据②中的每个数

专利地区：江西