质量分析方法以及质量分析装置专利登记公告

专利名称：质量分析方法以及质量分析装置

摘要：本发明提供一种质量分析方法及质量分析装置。修正离子化效率和导入到离子陷阱的测定对象物质的量的改变并进行定量。将标准物质的离子和测定对象物质的离子同时俘获在离子陷阱，并根据质量选择性地排出的标准物质的离子的信号强度和测定对象物质的碎片离子的信号强度，对测定对象物质的浓度进行定量。

专利类型：发明专利

专利号：CN201210024742.9

专利申请（专利权）人：株式会社日立高新技术

专利发明（设计）人：杉山益之;桥本雄一郎;长谷川英树;桥场周平;熊野峻

主权项：一种质量分析方法，其特征在于，包括：将试样和已知浓度的标准物质在离子源进行离子化的工序；将试样离子和标准物质离子导入离子陷阱的工序；将上述试样离子和上述标准物质离子同时存储在上述离子陷阱的工序；从上述离子陷阱质量选择性地排出上述标准物质离子并进行检测的工序；在上述离子陷阱分离上述试样的前体离子的工序；离解上述试样的前体离子而生成碎片离子的工序；从上述离子陷阱质量选择性地排出上述碎片离子并进行检测的工序；以及根据检测到的上述标准物质离子的强度和离解后的上述试样的碎片离子的强度计算上述试样的浓度的工序。

专利地区：日本