阵列成像系统专利登记公告
专利名称：阵列成像系统
摘要：本发明涉及阵列成像系统，该系统包括基座和设置在基座上的由若干硅透镜组成的硅透镜阵列，在硅透镜正面的表面镀有厚度为四分之一波长的防反射层，在每个硅透镜背面中心分别设有一个太赫兹探测器，形成太赫兹探测器阵列，在所述基座的正表面，所述若干硅透镜之间的金属表面覆盖有太赫兹吸波材料层。
专利类型：发明专利
专利号：CN201210028016.4
专利申请（专利权）人：中国科学院紫金山天文台
专利发明（设计）人：张文;缪巍;史生才
主权项：阵列成像系统，包括基座和设置在基座上的由若干硅透镜组成的硅透镜阵列，在硅透镜正面的表面镀有厚度为四分之一波长的防反射层，在每个硅透镜背面中心分别设有一个太赫兹探测器，形成太赫兹探测器阵列，其特征是，在所述基座的正表面，所述若干硅透镜之间的金属表面覆盖有太赫兹吸波材料层。
专利地区：江苏
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