双谱段空间低温热像仪光学成像系统专利登记公告

专利名称：双谱段空间低温热像仪光学成像系统

摘要：双谱段空间低温热像仪光学成像系统，采用完全共用校正板、主镜、焦面校正透镜组的改进型施密特系统，偏视场使用，由两个独立的光学成像路径组合成。两组入射光线具有0°～4°夹角，分别依次到达校正板、主镜和焦面校正透镜组，最终到达两个分立的接收像面上分别成像。本系统采用消热差设计，利用共用校正板、主镜、焦面校正镜组光焦度、光学材料和结构材料的匹配，从而保证相机能够在常温条件下完成加工、装调和测试，在低温情况下进行工作。本系统具有工作温度范围宽，大视场，大相对孔径，光机结构集成度高，体积小，重量轻等优点，特别适用于对

专利类型：发明专利

专利号：CN201210028866.4

专利申请（专利权）人：北京空间机电研究所

专利发明（设计）人：胡斌;周峰;苏云;刘兆军;张涛;张寅生;李妥妥;吴立民;黄颖;汤天瑾

主权项：双谱段空间低温热像仪光学成像系统，其特征在于包括：共用校正板(1)、共用主镜(2)、共用焦面校正透镜组(3)和接收像面(4)；共用校正板(1)、共用主镜(2)和共用焦面校正透镜组(3)同轴并作为光学系统的主光轴，两个不同视场的夹角为0°～4°的视场光线从左侧以主光轴为中心对称入射至由共轴的凸平正透镜(5)和弯月负透镜(6)组成的共用校正板(1)，经过共用校正板(1)透射、共用主镜(2)反射、由共轴的弯向共用主镜(2)的弯月负透镜(7)和双凸正透镜(8)组成的共用焦面校正透镜组(3)透射到达双谱段分立的接收

专利地区：北京