一种凹面镜反射成像式光杠杆微位移测量系统专利登记公告

专利名称：一种凹面镜反射成像式光杠杆微位移测量系统

摘要：本发明涉及一种凹面镜反射成像式光杠杆微位移测量系统，包括凹面镜反射成像式光杠杆、平行光筒、支架、标尺以及电源。光杠杆的后脚尖放在待测物体上顶端，前脚尖放在平台上，凹面镜固定于前脚尖正上方，平行灯筒和标尺安装在支架上，与凹面镜相对。本系统能精确对微小位移进行高精度地测定，制造成本低、检测速度快、精度高、可靠性强、形象直观，操作简单。

专利类型：发明专利

专利号：CN201210029984.7

专利申请（专利权）人：西南大学

专利发明（设计）人：谭兴文

主权项：一种凹面镜反射成像式光杠杆微位移测量系统，包括凹面镜反射成像式光杠杆、平行光筒、支架和标尺；其特征在于：所述的凹面镜反射成像式光杠杆包括第一支架（8）、光杠杆（7）和球面镜（6）；光杠杆（7）的后脚尖（7?1）放置于待测物体的上端，前脚尖（7?2、7?3）放置于支架（8）的上端平台上，球面镜（6）固定于光杠杆的前脚尖（7?2、7?3）的正上方，球面镜（6）的前后倾角可以调节；所述的平行光筒（2）和标尺（4）安装在第二支架（5）上；所述平行光筒（2）包括外筒（2?2）、从前往后依次装在外筒（2?2）内的玻璃

专利地区：重庆