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多场耦合加载微纳米压入测试系统和测试方法专利登记公告


专利名称:多场耦合加载微纳米压入测试系统和测试方法

摘要:本发明涉及一种多场耦合加载微纳米压入测试系统和测试方法。该系统包括机械加载与测量子系统、磁场加载与测量子系统、电场加载与测量子系统和循环油浴热场加载与测量子系统,可变磁场的施加是通过控制流经电磁铁的电流大小来实现;可变电场的施加是通过高精度稳压电源来实现,通过调整正负电极在试样的位置分布来实现电场在试样不同方向上的施加;在加热区对硅油进行加热,通过油路流至油浴腔,通过热传导经试样台对试样进行加热。本发明装置原理可靠,结构紧凑,具有较高的实用价值,可精确地检测电磁固体薄膜材料的微纳米尺度物理力学性质。

专利类型:发明专利

专利号:CN201210032514.6

专利申请(专利权)人:北京大学

专利发明(设计)人:方岱宁;周浩;裴永茂;李法新;李应卫

主权项:一种多场耦合加载微纳米压入测试系统,其特征是,所述系统包括:机械加载与测量子系统,电场加载与测量子系统,磁场加载与测量子系统,热场加载与测量子系统;所述机械加载与测量子系统,包括:主机架(2);为测试提供水平位置调整的横向粗调移动台(3)、横向精密移动台(4),为测试提供竖直位置粗调的电机驱动单元(26),所述的电机驱动单元(26)通过连接面板(27)与主机架(2)相连,下端与压电堆驱动单元(25)串联,压电堆驱动单元(25)下端分别接精密力传感器(24)和电容式位移传感器(23),以及连接在压头连接杆上

专利地区:北京