一种用于降低择优取向效应的粉末衍射制样方法专利登记公告

专利名称：一种用于降低择优取向效应的粉末衍射制样方法

摘要：本发明提供了一种粉末样品制样方法，应用于采用Bragg-Brentano衍射几何的粉末衍射实验。使用此方法后可以准确地收集到粉末衍射的衍射强度数据，用于进行准确的相鉴定、定量相分析、晶胞常数确定和晶体结构精修。此方法包括一系列步骤，其特征在于直接利用微细粉末自身重量，将粉末撒落在粘性表面来制得实验用样品。其特征也表现为通过此方法制得的粉末衍射用样品，能得到重复性好的衍射谱线。这一方法能最大程度地减轻粉末样品在粉末衍射实验时样品的择优取向，这种择优取向会导致衍射峰峰强度、衍射峰形与峰位发生偏差，利用这种不精

专利类型：发明专利

专利号：CN201210032986.1

专利申请（专利权）人：江西理工大学

专利发明（设计）人：不公告发明人

主权项：一种粉末衍射实验用制样方法，其特征在于利用粉末自身重量撒落在一个平整的粘性表面，从而获得在粘性表面分布与取向均匀的粉末样品。

专利地区：江西