测定装置及测定方法专利登记公告

专利名称：测定装置及测定方法

摘要：本发明提供了测定装置及测定方法，该测定装置用于测定试样所包括的目标物质的浓度，其具有：光源(光源装置)；光入射体(传感器芯片)，具有通过金属粒子形成有增强电场的试样接触面，光入射体通过从光源射出的光使从目标物质放射的拉曼散射光在增强电场中增强；照射单元，使从光源射出的光入射光入射体中的多个区域；受光单元(受光元件)，接收从多个区域分别放射的拉曼散射光；以及定量单元(控制装置)，基于区域的总数和从各个区域接收到的拉曼散射光的强度，定量目标物质的浓度。

专利类型：发明专利

专利号：CN201210034259.9

专利申请（专利权）人：精工爱普生株式会社

专利发明（设计）人：桥元伸晃

主权项：一种测定装置，用于测定试样所包括的目标物质的浓度，所述测定装置的特征在于，具有：光源；光入射体，具有通过金属粒子形成增强电场的试样接触面，所述光入射体使通过从所述光源射出的光而从所述目标物质放射的拉曼散射光在所述增强电场中增强；照射单元，使从所述光源射出的光入射所述光入射体中的多个区域；受光单元，接收从所述多个区域分别放射的所述拉曼散射光；以及定量单元，基于所述区域的总数和从各个所述区域接收到的所述拉曼散射光的强度，对所述目标物质的浓度进行定量。

专利地区：日本