一种斜入射激光粒度仪专利登记公告

专利名称：一种斜入射激光粒度仪

摘要：本发明为一种实现全范围（0-180度）散射角度测量的斜入射激光粒度仪。该粒度仪包括激光器、透镜组、样品池和探视器，其特征在于，透镜组为同光轴的前透镜和后透镜组成，分别置于样品池前后两侧，使样品池中心处于光轴上；激光器倾斜置于后透镜的后侧，发出的激光束通过后透镜的边缘部分变为平行光后倾斜入射至样品池的中心；探视器包括位于前透镜前方的前探视器和后透镜后方的后探视器接受来自样品池内颗粒物的散射光信号。解决了由于透镜接受的散射光角度范围小而存在的灵敏度和分辨率低的问题，具有灵敏度和分辨率高，测试准确性高和测量粒度

专利类型：发明专利

专利号：CN201210035888.3

专利申请（专利权）人：丹东市百特仪器有限公司

专利发明（设计）人：范继来;董青云

主权项：一种斜入射激光粒度仪，包括激光器、透镜组、样品池和探视器，其特征在于，透镜组为同光轴的前透镜和后透镜组成，分别置于样品池前后两侧，使样品池中心处于光轴上；激光器倾斜置于后透镜的后侧，发出的激光束通过后透镜的边缘部分变为平行光后倾斜入射至样品池的中心；探视器包括位于前透镜前方的前探视器和后透镜后方的后探视器接受来自样品池内颗粒物的散射光信号。

专利地区：辽宁