高压下透明流体折射率测量装置专利登记公告

专利名称：高压下透明流体折射率测量装置

摘要：本发明提供了一种高压下透明流体折射率测量装置。光源输出光束经过凹面镜变成平行光，平行光束依次经过反射镜和取样镜后垂直入射到窗口Ⅰ，再经过放置在密封机构的被测流体和窗口Ⅱ后垂直入射到光谱仪入口；窗口Ⅰ与窗口Ⅱ的表面平行设置，由取样镜反射的平行光束通过功率监视仪对输出的平行光束功率进行监视测量，盛装被测流体的密封机构通过热电耦测量温度，通过恒温箱保持实验中被测流体温度恒定，开关Ⅰ用于控制气体的注入，以增加密封机构内流体压强，开关Ⅱ用于控制真空泵工作，以减少密封机构内被测流体压强，被测流体的压强通过压力测量仪测

专利类型：发明专利

专利号：CN201210038182.2

专利申请（专利权）人：中国工程物理研究院流体物理研究所

专利发明（设计）人：陈其峰;顾云军;孙志红;郑军;陈志云;陈玉雷

主权项：一种高压下透明流体折射率测量装置，其特征是：所述测量装置中的光源（2）输出光束经过凹面镜（3）变成平行光，平行光束依次经过反射镜（1）和取样镜（4）后垂直入射到窗口Ⅰ（8），再经过放置在密封机构（10）的被测流体（9）和窗口Ⅱ（11）后垂直入射到光谱仪（12）入口；窗口Ⅰ（8）与窗口Ⅱ（11）的表面平行设置，由取样镜（4）反射的平行光束通过功率监视仪（5）对输出的平行光束功率进行监视测量，盛装被测流体（9）的密封机构（10）通过热电耦（6）测量温度，通过恒温箱（7）保持实验中被测流体（9）温度恒定，开关Ⅰ

专利地区：四川