一种基于光学方法的大电流检测装置专利登记公告
专利名称:一种基于光学方法的大电流检测装置
摘要:本发明公开了一种基于光学方法的大电流检测装置,包括激光光源、偏振控制及检测器、磁光晶体以及PC机,所述偏振控制及检测器的光输入端与激光光源通过保偏光纤相连,所述磁光晶体的一端与偏振控制及检测器的光输出端通过保偏光纤相连,所述磁光晶体的另一端与偏振控制及检测器的检测端通过保偏光纤相连,所述PC机与所述偏振控制及检测器相连。偏振控制及检测器不仅可以使偏振光的o光与e光产生不同的相位延迟而且可以检测偏振光的偏振态,磁光晶体使偏振光在通过大电流产生的磁场后与入射光的偏振面有一个较大的偏角,本发明的测量装置中不含铁
专利类型:发明专利
专利号:CN201210038670.3
专利申请(专利权)人:上海理工大学
专利发明(设计)人:张学典;侯英龙;毛辰飞;鲁敦科;常敏
主权项:一种基于光学方法的大电流检测装置,其特征在于,包括激光光源、偏振控制及检测器、磁光晶体以及PC机,所述偏振控制及检测器的光输入端与激光光源通过保偏光纤相连,所述磁光晶体的一端与偏振控制及检测器的光输出端通过保偏光纤相连,所述磁光晶体的另一端与偏振控制及检测器的检测端通过保偏光纤相连,所述PC机与所述偏振控制及检测器相连。
专利地区:上海
关于上述专利公告申明 : 上述专利公告转载自国家知识产权局网站专利公告栏目,不代表该专利由我公司代理取得,上述专利权利属于专利权人,未经(专利权人)许可,擅自商用是侵权行为。如您希望使用该专利,请搜索专利权人联系方式,获得专利权人的授权许可。