用于超导交流电压标准的低热电势测试探杆专利登记公告

专利名称：用于超导交流电压标准的低热电势测试探杆

摘要：本发明公开了一种用于超导交流电压标准的低热电势测试探杆，包括转接头、测量转接盒、连接杆和屏蔽筒，屏蔽筒内设置有超导阵列结，连接杆内设有同轴电缆A和同轴电缆B；同轴电缆A上端头的线芯与测量转接盒内的电压输出接口低端相连接，同轴电缆A下端头的线芯与超导阵列结电压输出高端相连接，同轴电缆A下端头的屏蔽层与超导阵列结电压输出低端相连接；同轴电缆B上端头的线芯与测量转接盒内的电压输出接口高端相连接，同轴电缆B下端头的线芯与该同轴电缆B下端头的屏蔽层短接；同轴电缆A上端头的屏蔽层与同轴电缆B上端头的屏蔽层短接在一起。

专利类型：发明专利

专利号：CN201210040027.4

专利申请（专利权）人：北京无线电计量测试研究所

专利发明（设计）人：朱珠;康焱

主权项：一种用于超导交流电压标准的低热电势测试探杆，其特征在于：所述测试探杆包括转接头、测量转接盒、连接杆和屏蔽筒，所述转接头固定设置于所述测量转接盒的一端，所述测量转接盒的另一端与所述连接杆的上端部固接在一起，所述屏蔽筒与所述连接杆的下端部固定连接在一起；?所述屏蔽筒内设置有超导阵列结，所述连接杆内设有连接引线，所述的连接引线包括同轴电缆A和同轴电缆B；所述同轴电缆A上端头的线芯与所述测量转接盒内的电压输出接口低端相连接，所述同轴电缆A下端头的线芯与所述超导阵列结电压输出高端相连接，该同轴电缆A下端头的屏蔽层与

专利地区：北京