一种提高简单黄铜在X射线荧光光谱测定准确度的方法专利登记公告

专利名称：一种提高简单黄铜在X射线荧光光谱测定准确度的方法

摘要：本发明公开了一种提高简单黄铜在X射线荧光光谱测定准确度的方法，属于测定方法，其具体参数要求为：（1）控制试样的表面粗糙度；在车制简单黄铜试样时，采用高速钢车刀，并控制每次进刀量小于0.2mm，使试样的粗糙度达到10μm以下；（2）在X射线荧光光谱仪器上，根据不同元素的被影响程度，计算出以下公式，并应用到仪器的运算中；Cu+Zn+其他元素=100%，Cu+Zn=99.88%，经过测量出的各元素的荧光强度，荧光光谱仪器根据公式自动计算出Cu、Zn等各元素的含量。与现有技术相比，本发明的提高简单黄铜在X射线荧光

专利类型：发明专利

专利号：CN201210042060.0

专利申请（专利权）人：中色奥博特铜铝业有限公司

专利发明（设计）人：梁琦明;张西军;田英明;孙克斌;郑朋艳;王洁

主权项：一种提高简单黄铜在X射线荧光光谱测定准确度的方法，其技术参数要求：（1）控制试样的表面粗糙度；在车制简单黄铜试样时，采用高速钢车刀，并控制每次进刀量小于0.2mm，使试样的粗糙度达到10μm以下；（2）在X射线荧光光谱仪器上，根据不同元素的被影响程度，计算出以下公式，并应用到仪器的运算中；Cu+Zn+其他元素=100%，Cu+Zn=99.88%，经过测量出的各元素的荧光强度，荧光光谱仪器根据公式自动计算出Cu、Zn等各元素的含量。

专利地区：山东