一种开放扫描电极模式的电阻抗成像系统专利登记公告

专利名称：一种开放扫描电极模式的电阻抗成像系统

摘要：本发明公开了一种开放扫描电极模式的电阻抗成像系统，激励电极将激励源发出的激励信号引入成像体；第一测量电极和第二测量电极沿成像体的表面在激励电极之间进行一维或二维的扫描；测量装置通过第一测量电极和第二测量电极采集成像体的测量信息，并将测量信息传输至微处理器，微处理器对测量信息进行处理，重建成像体的电阻抗分布图像。本发明克服了成像体表面面积对第一测量电极和第二测量电极安置数量的限制，通过对第一测量电极和第二测量电极的设置极大程度的提高了排布测量电极的密度，增加有用信息，改善了电阻抗重建的病态性，提高了电阻抗(

专利类型：发明专利

专利号：CN201210044463.9

专利申请（专利权）人：天津大学

专利发明（设计）人：李刚;陈瑞娟;刘近贞;郝丽玲;林凌

主权项：一种开放扫描电极模式的电阻抗成像系统，其特征在于，包括：一对激励电极、第一测量电极、第二测量电极、激励源、测量装置和微处理器，其中，所述激励电极固定设置在所述成像体上，所述激励电极将所述激励源发出的激励信号引入所述成像体；所述第一测量电极和所述第二测量电极沿所述成像体的表面在所述激励电极之间进行一维或二维的扫描；所述测量装置通过所述第一测量电极和所述第二测量电极采集所述成像体的测量信息，并将所述测量信息传输至所述微处理器，所述微处理器对所述测量信息进行处理，重建所述成像体的电阻抗分布图像。

专利地区：天津