检测集成芯片及检测方法专利登记公告

专利名称：检测集成芯片及检测方法

摘要：本发明公开了一种检测集成芯片及检测方法。该芯片分为上中下三层，所述的芯片上层与所述的芯片中层及所述的芯片中层与所述的芯片下层分别相连；所述芯片上层或中层设有一组用于样品加样的通孔；所述的芯片下层设有一组槽；所述的芯片各层都设有连接各槽间的微流道。通过该芯片可以一次性自动化完成样品溶液的前处理、定量输送、反应并对溶液中成分的含量进行检测，既能满足多指标单试剂法的检测，也能用于多指标双试剂法及多试剂法的检测。本发明芯片可以用于生物分析、医学检测、环境污染物检测以及食品、药品安全等分析检测领域。

专利类型：发明专利

专利号：CN201210046040.0

专利申请（专利权）人：天津微纳芯科技有限公司

专利发明（设计）人：王战会;陈坦

主权项：一种检测集成芯片及检测方法，包括用于加样的通孔、一组槽、连接各槽间的微流道，其特征在于：所述的芯片分为上中下三层，所述的芯片上层与中层及所述的芯片中层与下层分别水密性地相连；所述芯片上层和/或中层设有一组用于加样的通孔；所述的芯片下层设有一组槽；连接各槽间的微流道设置在相应的芯片层上；所述的芯片下层的槽为样品槽、稀释液槽、储液槽、过渡槽、反应检测槽、至少一组试剂槽、一组用于系统校正的自检槽、一组溢流槽，上述各槽间通过微流道相连；所述的一组或多组试剂槽中预装有定量的液态反应试剂，第一组试剂槽中装入A1、B1

专利地区：天津