一种应用于多频率三维测量的全局相位解相方法专利登记公告

专利名称：一种应用于多频率三维测量的全局相位解相方法

摘要：本发明属于三维机器视觉领域，涉及一种应用于多频率三维测量的全局相位解相方法。该方法通过投射3种周期分别为P1、P2和P3的正弦或者余弦规律变化的光信息，每种光信息需要经过4-8步相移，通过每个周期的相移图案，分别解算每个周期的相位值、两个周期的合成相位值以及三个周期的最终合成相位值。最后通过合成相位分别计算每个周期的全局相位值，进而通过三维重建获得物体的全貌三维坐标。本发明所设计的全局相位解相方法，优于传统的格雷码相位解相方法，可以有效的解决三维测量中被测物体表面颜色不一致的测量难题，无需喷涂显影剂，更加

专利类型：发明专利

专利号：CN201210048001.4

专利申请（专利权）人：天津工业大学

专利发明（设计）人：宋丽梅;杨燕罡;董虓霄;张亮;陈昌曼

主权项：本发明所设计的全局相位解相方法，其特征是：对于图像中每一个点(x，y)的全局相位值的计算过程，工作步骤如下：步骤1：选取合适的P1、P2和P3的值，P1、P2和P3的取值均在0?LR之间，并且P1和P2的合成周期P12以及P2和P3的合成周期P23，以及P12和P23的合成周期P123，经过公式(1)的运算后，满足P123≥LR； P 12 = |

专利地区：天津