一种绝缘子人工污秽闪络试验数据分析处理方法专利登记公告

专利名称：一种绝缘子人工污秽闪络试验数据分析处理方法

摘要：本发明涉及一种基于稳健回归算法的绝缘子人工污秽闪络试验数据分析处理方法。目前利用最小二乘法确定污闪电压时，只适用于试验数据相关性较高的情况，容易夸大试验数据中奇异值的影响，统计误差增大，从而使得回归方程缺乏稳健性。本发明提供了一种绝缘子人工污秽闪络试验数据分析处理方法，其特征在于，根据绝缘子表面盐密、灰密及污秽闪络电压试验数据，通过复加权最小二乘迭代算法求解回归系数；迭代计算中采用权重函数，权重系数为上次迭代的残差函数，以此减少奇异值对回归系数的影响；由回归系数映射出盐密影响特征指数和灰密影响特征指数，并

专利类型：发明专利

专利号：CN201210048137.5

专利申请（专利权）人：浙江省电力试验研究院

专利发明（设计）人：吴锦华;王少华;梅冰笑;刘黎;龚坚刚;罗盛;叶自强

主权项：一种绝缘子人工污秽闪络试验数据分析处理方法，其特征在于，根据绝缘子表面盐密、灰密及污秽闪络电压试验数据，通过复加权最小二乘迭代算法求解回归系数；迭代计算中采用权重函数，权重系数为上次迭代的残差函数，以此减少奇异值对回归系数的影响；由回归系数映射出盐密影响特征指数和灰密影响特征指数，并预测绝缘子的污闪电压；上述方法的具体步骤如下：a)对常规的乘幂函数形式的绝缘子污秽闪络电压校正公式，两边取自然对数，进行线性化：lnUf＝lnK?nln(SDD)?mln(NSDD)???????(1)上式中的NSDD表示绝缘

专利地区：浙江