使用滤波器乘积的线性校正器的校准系统和方法专利登记公告

专利名称：使用滤波器乘积的线性校正器的校准系统和方法

摘要：公开了一种用于使用滤波器乘积的和来校准线性校正器的校准系统，以及一种校准该线性校正器的方法。该校准系统包括用于将测试信号引入例如ADC的信号处理系统的第一和第二信号发生器。提供采集存储器和处理器用于采集和分析该信号处理系统的输出，并且然后编程该滤波器系数到该线性校正器中。该校准方法分析从该信号处理系统采集的互调和谐波分量，然后为该滤波器寻找幅度和相位响应。然后使用该幅度和相位响应来确定一组滤波系数。

专利类型：发明专利

专利号：CN201210049028.5

专利申请（专利权）人：特克特朗尼克公司

专利发明（设计）人：K·R·斯拉文

主权项：一种校准线性校正器的方法，包括：将第一波形和第二波形输入到具有输出的信号处理系统；当其中每个从所述信号处理系统输出时，采集和分析所述第一波形和所述第二波形的互调和谐波分量；通过基于失真模型和所述互调和谐波分量确定目标函数的最小值来为滤波器寻找幅度和相位响应，所述滤波器被用于连接到所述设备的输出的线性校正器中；和基于所述幅度和相位响应计算一组滤波系数。

专利地区：美国