一种带电粒子束测量装置专利登记公告
专利名称:一种带电粒子束测量装置
摘要:本发明公开了一种带电粒子束测量装置,所述测量装置包括阵列绝缘板、多个带电粒子收集单元、总电荷收集板、绝缘垫、外筒和后盖,阵列绝缘板上设有多个带电粒子收集单元和总电荷收集板,带电粒子收集单元和总电荷收集板均有一个贯穿整个阵列绝缘板的导电通道,任意两个带电粒子收集单元之间电绝缘,任意一个带电粒子收集单元与总电荷收集板之间电绝缘。本发明的带电粒子束测量装置含有一个由多个带电粒子收集单元构成的阵列,根据各个不同位置带电粒子收集单元收集的电荷强弱,可以测量脉冲或直流带电粒子束的位置和轮廓。
专利类型:发明专利
专利号:CN201210049105.7
专利申请(专利权)人:中国工程物理研究院电子工程研究所
专利发明(设计)人:黎明;程焰林;张国亮;程亮;陈磊;赵翔;杨集;金大志;向伟;谈效华
主权项:一种带电粒子束测量装置,其特征在于:所述的带电粒子束测量装置包括阵列绝缘板(3)、带电粒子收集单元、总电荷收集板(5)、绝缘垫(2)、外筒(1)和后盖(6);其中,外筒(1)前端设置有开口端,外筒(1)后端设置有阵列绝缘板(3)、带电粒子收集单元、总电荷收集板(5)、绝缘垫(2)和后盖(6);阵列绝缘板(3)上设置有多个带电粒子收集单元和一个总电荷收集板(5),带电粒子收集单元与总电荷收集板(5)之间有一间隙相互咬合布满整个阵列绝缘板(3)构成探测板;探测板与外筒(1)之间设置有一个绝缘垫(2),后盖(6
专利地区:四川
关于上述专利公告申明 : 上述专利公告转载自国家知识产权局网站专利公告栏目,不代表该专利由我公司代理取得,上述专利权利属于专利权人,未经(专利权人)许可,擅自商用是侵权行为。如您希望使用该专利,请搜索专利权人联系方式,获得专利权人的授权许可。