一种针对Java卡不同性能指标的自适应测试方法专利登记公告

专利名称：一种针对Java卡不同性能指标的自适应测试方法

摘要：本发明公开了一种针对Java卡不同性能指标的自适应测试方法，包括如下步骤：1）测试终端向Java卡发送用于性能测试的JavaCardApplet应用命令；2）在测试终端设置所需要的精度；3）测试终端将循环测试次数为设置0，测出Java卡执行所述JavaCardApplet时间后，将循环测试次数为设置1，测出Java卡所述JavaCardApplet执行时间；4）利用公式，测试终端计算得出适合该性能测试的合理循环测试次数C；5）测试终端将循环测试次数设为C，测出Java卡经过C次循环后所述JavaCardA

专利类型：发明专利

专利号：CN201210049266.6

专利申请（专利权）人：浙江大学

专利发明（设计）人：李莹;殷中科;张凌飞

主权项：一种针对Java卡不同性能指标的自适应测试方法，其特征在于，包括如下步骤：1)测试终端向Java卡发送用于性能测试的JavaCard?Applet应用命令；2)在测试终端设置所需要的精度；3)测试终端将循环测试次数为设置0，测出Java卡执行所述JavaCard?Applet时间T0后，将循环测试次数为设置1，测出Java卡所述JavaCard?Applet执行时间T1；4)利用公式测试终端计算得出适合该性能测试的合理循环测试次数C；5)测试终端将循环测试次数设为C，测出Java卡经过C次循环后所述Jav

专利地区：浙江