基于声压反射系数功率谱测量薄层声阻抗和声衰减的方法专利登记公告

专利名称：基于声压反射系数功率谱测量薄层声阻抗和声衰减的方法

摘要：一种基于声压反射系数功率谱测量薄层声阻抗和声衰减的方法，属于材料超声无损检测与评价技术领域。该方法使用脉冲超声水浸回波系统，采集来自水与薄层上表面以及水与薄层下表面的界面反射回波组成的混叠信号，再采集一个标准试块的上表面回波信号，对两个信号分别进行FFT，通过进一步处理得到声压反射系数功率谱。然后对功率谱进行低通滤波和带通滤波，求出功率谱表达式中的相关系数，并将这些系数代入方程求得薄层的声阻抗和声衰减。本方法可以在不知道薄层任何参数的情况下同时求得其声阻抗和声衰减，克服了现有技术需要已知薄层的部分参量才能

专利类型：发明专利

专利号：CN201210049984.3

专利申请（专利权）人：大连理工大学

专利发明（设计）人：林莉;胡志雄;陈军;罗忠兵;李喜孟

主权项：一种基于声压反射系数功率谱测量薄层声阻抗和声衰减的方法，其特征是：它采用一个包括超声探伤仪(1)、超声脉冲水浸探头(2)、薄层试样(3)、水槽(4)、数字示波器(5)以及计算机(6)的脉冲超声水浸回波系统，它采用的测量步骤如下：(1)利用所述脉冲超声水浸回波系统向薄层试样垂直发射超声信号，并采集来自水与薄层上表面以及水与薄层下表面的界面反射回波组成的试样信号；(2)利用所述脉冲超声水浸回波系统采集一个标准试块的基准信号；(3)对所述步骤(1)和(2)采集到的试样信号和基准信号分别进行FFT，得到试样信号和

专利地区：辽宁