基于声压反射系数功率谱测量超声在薄层介质中往返时间的方法专利登记公告

专利名称：基于声压反射系数功率谱测量超声在薄层介质中往返时间的方法

摘要：一种基于声压反射系数功率谱测量超声在薄层介质中往返时间的方法，属于材料超声无损检测与评价技术领域。该方法使用脉冲超声水浸回波系统采集一个由水与薄层上表面组成界面的反射回波信号和水与薄层下表面组成界面的反射回波信号组成的混叠信号，再采集一个标准试块的上表面回波信号。然后分别对采集到的信号进行FFT，进一步处理得到声压反射系数功率谱。接着从功率谱的幅度谱中读出各余弦分量对应的δ脉冲的横坐标，即为超声在薄层中的各次往返时间。本方法克服了由于超声回波信号带宽不能覆盖薄层声压反射系数幅度谱中相邻两极小值而不能确定超

专利类型：发明专利

专利号：CN201210051117.3

专利申请（专利权）人：大连理工大学

专利发明（设计）人：林莉;胡志雄;陈军;罗忠兵;李喜孟

主权项：一种基于声压反射系数功率谱测量超声在薄层介质中往返时间的方法，其特征是：它采用一个包括超声探伤仪(1)、超声脉冲水浸探头(2)、薄层试样(3)、水槽(4)、数字示波器(5)以及计算机(6)的脉冲超声水浸回波系统，它采用的测量步骤如下：(1)利用所述脉冲超声水浸回波系统向薄层试样垂直发射超声信号并采集一个由水与薄层上表面组成界面的反射回波信号和水与薄层下表面组成界面的反射回波信号组成的试样信号；(2)利用所述脉冲超声水浸回波系统采集一个标准试块的基准信号；(3)对所述步骤(1)和(2)采集到的试样信号和基准

专利地区：辽宁