统计分布式γ或X射线能谱解谱方法专利登记公告

专利名称：统计分布式γ或X射线能谱解谱方法

摘要：本发明为统计分布式γ或X射线能谱解谱方法，解决已有方法通用性差、工作量大、精度差的问题。本发明针对γ或X射线全能峰中的高斯部分，建立了多个根据γ或X射线探测特点得到的具有各自物理意义的参数，并阐明了这些参数的求解过程。其技术特点是在γ或X射线探测仪器稳定或模拟条件不变的情况下，只需计算一次参数，便可长期利用这些参数进行能谱拟合，使解谱实现过程简单化、通用化，避免了传统能谱拟合函数或模拟能谱展宽函数解谱方法中参数值多变和意义缺乏的不足，同时提高了γ或X射线能谱分析的分析速度和精度。

专利类型：发明专利

专利号：CN201210052742.X

专利申请（专利权）人：成都理工大学

专利发明（设计）人：李哲;庹先国;杨剑波;刘明哲;成毅;王磊;石睿

主权项：统计分布式γ或X射线能谱解谱方法：数字化谱仪或多道能谱仪向计算机输出的能谱数据组的长度为m，m为正整数，能谱数据组由道址j，j＝1，2，Λ，m，射线能量Ej，射线计数率Cj构成，Ej＝a+b·j，a，b为常数，称为刻度系数，解谱步骤如下：(1)寻峰：从能谱数据组得到全能峰的峰位射线能量Ek和道址jk，小于或大于jk的道址的射线计数率都小于道址jk的射线计数率Ck，全能峰峰位道址为1?n个，其道址不同，k为1?n内的正整数，(2)确定左右边界：以道址jk为中心，得到小于jk的左边界道址L和大于jk的右边界道

专利地区：四川