探测X射线辐射的方法和直接转换探测器的探测器系统专利登记公告

专利名称：探测X射线辐射的方法和直接转换探测器的探测器系统

摘要：本发明涉及一种利用直接转换探测器光子计数地探测X射线辐射的方法，其中，依据现有辐射能量产生与其尽可能成比例的电流脉冲和/或电压脉冲，并且在超过预定的电流门限或电压门限的情况下在探测器中计数所产生的电流脉冲和/或电压脉冲，其中，将如下的门限用作预定的电流门限或电压门限，所述门限对应于具有比所使用的探测器材料的k边缘更小的能量的光子的探测。

专利类型：发明专利

专利号：CN201210057340.9

专利申请（专利权）人：西门子公司

专利发明（设计）人：E.克拉夫特;D.尼德尔洛纳;C.施罗特

主权项：一种利用直接转换探测器(3，5)光子计数地探测X射线辐射的方法，其中，1.1.依据现有辐射能量产生与其尽可能成比例的电流脉冲和/或电压脉冲，并且1.2.在超过预定的电流门限或电压门限的情况下在所述探测器(3，5)中计数所产生的电流脉冲和/或电压脉冲，其特征在于，1.3.将如下的门限用作预定的电流门限或电压门限：所述门限对应于具有比所使用的探测器材料的k边缘更小的能量的光子的探测。

专利地区：德国