基于正、余弦定理算法的平面控制测量方法专利登记公告

专利名称：基于正、余弦定理算法的平面控制测量方法

摘要：本发明提供一种基于正、余弦定理算法的平面控制测量方法，该方法在互相不能通视的A、B点之外加密一个新控制点C，通过采用全站仪的角度测回法以及往返距离的测量，测量出AC、BC之间的距离及∠ACB的角度，再通过坐标正算法利用A、B坐标计算出AB之间的理论距离，用于验证全站仪测量数据的精确度及准确性，最后利用正、余弦定理以及坐标的反算求得新控制点C的平面位置，提高了测量精度，保证了测量工作的顺利进行。

专利类型：发明专利

专利号：CN201210058406.6

专利申请（专利权）人：中冶建工集团有限公司

专利发明（设计）人：周波林;李定彬

主权项：基于正、余弦定理算法的平面控制测量方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)布点：在测区内，有已知A、B两个控制点的坐标(xA，yA)、(xB，yB)，A、B两控制点相互不能通视；在AB两控制点的连线以外加密一个新控制点C，C的坐标设为(xC，yC)，C点既能通视A也能通视B；(2)测量：运用全站仪的测距功能测AC的距离为b，BC的距离为a；然后再用测回法测得∠ACB的角度；(3)计算：a、运用坐标反算的方法求得AB的方位角为αAB；b、根据正弦定理计算出∠BAC的角度；c、根据第a步算出的AB的方位角αAB

专利地区：重庆