一种星上点目标检测方法专利登记公告

专利名称：一种星上点目标检测方法

摘要：本发明公开了一种星上点目标检测方法，包括对图像数据进行辐射校正处理和几何校正处理的步骤；对图像数据背景抑制处理，获得目标图像数据的步骤；剔除目标图像数据中的粒子尖峰，获得目标过采样图像数据的步骤；利用目标过采样数据获得目标位置数据的步骤。采用本发明实现了在星上对图像数据的检测实现对目标获取。

专利类型：发明专利

专利号：CN201210058449.4

专利申请（专利权）人：北京空间机电研究所

专利发明（设计）人：邢坤;周峰;吴立民;刘兆军;张涛;张寅生;胡斌;王斌

主权项：一种星上点目标检测方法，其特征在于包括以下步骤：步骤1：利用TDI?CCD的非均匀校正系数对获得的图像数据进行辐射校正处理，对辐射校正后的图像数据进行几何校正处理；所述图像数据通过对TDI?CCD获取的图像信号进行过采样获得；步骤2：对经过步骤1处理的图像数据进行背景抑制处理，去除图像数据中背景图像数据获得目标图像数据；步骤3：剔除经过步骤2获得的目标图像数据中的粒子尖峰，获得目标过采样图像数据；步骤4：利用步骤3获得的目标过采样图像数据确定目标位置数据并输出。

专利地区：北京