一种基于USB转IIC协议的芯片测试系统专利登记公告

专利名称：一种基于USB转IIC协议的芯片测试系统

摘要：本发明涉及一种基于USB转IIC协议的芯片测试系统，与外部测试芯片连接，包括上位机、测试板、IIC总线；上位机内设测试软件并通过USB接口与测试板连接,用于生成测试数据并通过USB接口传递给测试板；测试板接收测试数据并进行USB协议与IIC协议转换，通过ICC总线与外部测试芯片连接。能够可视化的查看修改寄存器的数据，得到的返回值可以直观的显示在PC端，以及批量读取Memory、Flash中的数据，便宜测试人员的对芯片内部数据有一个直观的了解。

专利类型：发明专利

专利号：CN201210059124.8

专利申请（专利权）人：无锡华大国奇科技有限公司

专利发明（设计）人：王茂海

主权项：一种基于USB转IIC协议的芯片测试系统，与外部测试芯片连接，其特征在于：包括上位机、测试板、IIC总线；所述的上位机通过USB接口与测试板连接,用于生成测试数据并通过USB接口传递给测试板；所述的测试板接收测试数据并进行USB协议与IIC协议转换，通过ICC总线与外部测试芯片连接。

专利地区：江苏