一种离散状态颗粒粒度分布的测量方法及装置专利登记公告

专利名称：一种离散状态颗粒粒度分布的测量方法及装置

摘要：一种离散状态颗粒粒度分布的测量方法及装置，首先，布置一个发射平面驻波声波或者平面行波的声场；离散状态的颗粒系在声波作用下发生水平横向振动，对颗粒系的横向运动轨迹进行连续拍照，顺次记录图像；统计图像中该颗粒随时间t在声场中的振幅值x，获得该颗粒的实际振动曲线，将上述实际曲线与理论计算下、不同粒径颗粒在相同声场中的振动曲线相对比，取曲线近似度最高的颗粒粒径为该颗粒的粒径、直至颗粒系中所有颗粒的粒径确定完毕，获得颗粒系的粒度分布。本发明能够获得比光学图像法更低的粒度测量下限，实现了完全的非接触测量，测量精度高，

专利类型：发明专利

专利号：CN201210059154.9

专利申请（专利权）人：上海理工大学

专利发明（设计）人：苏明旭;蔡小舒

主权项：一种离散状态颗粒粒度分布的测量方法，其特征在于：第一步，布置一个发射平面驻波声波或者平面行波的声场，声波的传播方向为水平方向；第二步，离散状态的颗粒系在自身重力或外力作用下从声场上方下落、进入声场，在声波作用下发生水平横向振动，对颗粒系的横向运动轨迹进行连续拍照，顺次记录图像；第三步，在第一幅图像中选取一颗粒，设该颗粒开始下落时在该图像中的初始横向振幅值x0＝0，将顺次记录的图像叠加，获得该颗粒随时间t在声场中的横向振动曲线；第四步，将上述实际曲线与理论计算下、不同粒径颗粒在相同声场中的振动曲线相对比，取

专利地区：上海