聚焦全内反射法测量物质折射率分布专利登记公告

专利名称：聚焦全内反射法测量物质折射率分布

摘要：一种物质折射率分布的测定方法，基于全内反射原理，使用柱面镜将光线会聚，使光线聚焦在折射率已知的棱镜和待测物质的接触面的一条水平直线上，使用面阵电荷耦合器件测量反射光强分布，利用计算机进行控制、采集、存储、处理数据，进而得到物质在会聚光聚焦处一条线上的折射率。棱镜和样品放置在高度可调的升降台上，通过调节升降台高度，改变会聚光聚焦在样品上的位置，进而可以得到物质的折射率分布。本发明适用于研究复杂样品的折射率分布性质。

专利类型：发明专利

专利号：CN201210062142.1

专利申请（专利权）人：南开大学

专利发明（设计）人：叶青;孙腾骞;王槿;邓志超;张春平;田建国

主权项：一种物质折射率分布的测定方法，基于全内反射原理，其特征在于，这种方法包括以下步骤：第一步，使用柱面镜将光源的出射光线会聚，并聚焦在折射率已知的棱镜和待测物质的接触面的一条水平直线上，使用面阵光电耦合器件测量反射光强分布，使用计算机采集数据，同一横坐标的一系列数据对应不同角度的入射光在样品同一点上的反射光强，屏蔽光源，由此得到环境背底和噪声的分布并存储；第二步，取消对光源的屏蔽，以折射率已知的空气作为样品，重复上一测量、采集过程，得到空气的反射光强分布并存储；第三步、测量待测样品样品，重复第一步测量、采集过

专利地区：天津