一种基于狭义相对论的质量分析方法与质谱仪器专利登记公告

专利名称：一种基于狭义相对论的质量分析方法与质谱仪器

摘要：本发明属于质量分析技术领域，具体为一种基于狭义相对论的质量分析方法与质谱仪器。本发明方法，是将待测物离子引入到离子源区后用加速电场将离子加速到3×105m/s或以上，再进入无场飞行区作自由飞行，然后进入离子探测器，根据离子在无场飞行区飞行的时间即可确定该离子的静止质量。基于该方法的质谱仪器，包括：一个离子源区，一个加速电场，一个无场漂移管，一个离子检测器；所述加速电场由三个或三个以上脉冲高压组成，这些脉冲高压由对应电极提供。由本发明测得的数据为离子真实的质荷比，质量准确，无需校正；而且灵敏度好、分辨率高，

专利类型：发明专利

专利号：CN201210063341.4

专利申请（专利权）人：复旦大学

专利发明（设计）人：何小丹;陈琛;丁传凡

主权项：一种基于狭义相对论的质量分析方法，其特征在于待测物离子进入到离子源区后用加速电场将待测物离子加速到3×105m/s或以上，再进入无场飞行区作自由飞行，然后进入离子探测器，被测量到，根据离子在无场飞行区飞行的时间确定该离子的静止质量，其算式为：=，式中，e表示被分析物所带电荷，E表示加速电场强度，d表示被分析物在加速电场中运动的距离，L表示无场漂移管的长度，c表示光速。2012100633414100001dest_path_image002.jpg,2012100633414100001dest_path

专利地区：上海