1GHz～8GHz同轴线-介质圆波导谐振腔及介电参数测试方法专利登记公告

专利名称：1GHz～8GHz同轴线-介质圆波导谐振腔及介电参数测试方法

摘要：本发明公开了一种用于1GHz～8GHz电介质测量的同轴线-介质圆波导谐振腔及测试方法。由外导体、内导体和轴向可移动探针构成空气同轴测量线的一端设有行程为100mm的可调节短路器,可调节短路器上设有输入耦合环；同轴测量线另一端内导体与金属短路板的间隔处设有圆柱介质样品,它与同轴线外导体构成介质圆波导。利用同轴线中的TEM波和样品中的TM01波组合谐振,求取材料的复介电常数。本发明克服了在同轴线中制备和插入紧密配合的圆环状样品的困难,而且实现了样品中电磁场分布与样品尺寸及工作频率无关,以及样品径向尺寸与金属壁

专利类型：发明专利

专利号：CN201210063977.9

专利申请（专利权）人：浙江大学

专利发明（设计）人：倪尔瑚;倪郁青;朱永花

主权项：一种1GHz～8GHz频段用于电介质测量的同轴线?介质圆波导谐振腔的测量装置，其特征在于包括同轴线外导体(1)、同轴线内导体(2)、可移动探针(3)、可调节短路器(4)、输入耦合环(5)、圆柱介质样品(6)、金属短路板(7)、微波输入信号(8)和输出驻波信号(9)；同轴线外导体(1)和同轴线内导体(2)为同轴结构、同轴线外导体(1)上设有轴向缝隙，在轴向缝隙上设有可移动探针(3)构成空气同轴测量线；空气同轴测量线的一端设有行程为100mm的可调节短路器(4)，可调节短路器(4)上设有输入耦合环(5)；空气

专利地区：浙江