一种用于防止静电破坏可靠性样品的版图设计专利登记公告

专利名称：一种用于防止静电破坏可靠性样品的版图设计

摘要：本发明公开一种用于防止静电破坏可靠性样品的版图设计，其中，包括有一待测的封装级器件，所述器件具有栅极，并且所述栅极并联连接一大面积栅电容，通过所述栅电容达到分流静电荷以保护所述器件。使用本发明一种用于防止静电破坏可靠性样品的版图设计，使得器件受到的静电破坏的可能性大大降低。同时不会对漏极电流产生影响，可以进行正常的测试。

专利类型：发明专利

专利号：CN201210066524.1

专利申请（专利权）人：上海华力微电子有限公司

专利发明（设计）人：尹彬锋;王炯;周柯

主权项：一种用于防止静电破坏可靠性样品的版图设计，其特征在于，包括有一待测的封装级器件，所述器件具有栅极，并且所述栅极并联连接一大面积栅电容，通过所述栅电容达到分流静电荷以保护所述器件。

专利地区：上海