光纤弯曲性能的测量方法专利登记公告

专利名称：光纤弯曲性能的测量方法

摘要：本发明公开一种简易的光纤弯曲性能的测量方法。在如下状态下测量从光纤的另一端射出的光的功率P1：在光纤(1)围绕心轴(2)的外周侧以恒定节距缠绕一层并且用折射率匹配片材(5)覆盖如此缠绕的光纤(1)的整个外周的情况下，使光入射至光纤的另一端。所述折射率匹配片材(5)的折射率与所述光纤(1)的最外层的树脂的折射率基本匹配。

专利类型：发明专利

专利号：CN201210066688.4

专利申请（专利权）人：住友电气工业株式会社

专利发明（设计）人：中西哲也;樽稔树;永岛拓志;小西达也;桑原一也;市川真

主权项：一种光纤弯曲性能的测量方法，包括：第一步，在所述光纤没有出现弯曲损耗的状态下，在使光入射至所述光纤的一端的情况下，测量从所述光纤的另一端射出的光的功率P0；第二步，围绕直径为2R的心轴缠绕所述光纤并用折射率匹配片材覆盖如此缠绕的光纤的整个外周，随后在使光入射至所述光纤的一端的情况下，测量从所述光纤的另一端射出的光的功率P1，所述折射率匹配片材的折射率与所述光纤的最外层中的树脂的折射率基本匹配；以及第三步，基于在所述第一步中测得的功率P0与在所述第二步中测得的功率P1，测量在所述光纤以直径2R弯曲的情况下所

专利地区：日本