一种利用信号频谱测量交变法拉第磁偏角的装置及方法专利登记公告
专利名称:一种利用信号频谱测量交变法拉第磁偏角的装置及方法
摘要:本发明涉及一种利用信号频谱测量交变法拉第磁偏角的装置及方法,首先理论计算出基频和二倍频处信号幅值之比与法拉第磁偏角的幅值一一对应的关系曲线;利用交变法拉第线圈输出经过一支标准旋光管提供固定的旋光角度,产生固定的角度变化后,变化后的光信号经过光电转换后被采集,并对采集信号进行频谱分析,求得基频和二倍频处的信号幅值之比;根据得到的确定的比值,在确定的关系曲线上寻找对应的法拉第磁偏角的幅值,来精确确定法拉第磁偏角。该方法结构简单,一次定位,不需要机械结构的反复调整。可以实现对交变法拉第磁偏角的实时测量,测量范围
专利类型:发明专利
专利号:CN201210072950.6
专利申请(专利权)人:上海理工大学
专利发明(设计)人:贾宏志;王晓庆;杨振皓
主权项:一种利用信号频谱测量交变法拉第磁偏角的装置,其特征在于,依次包括光源(1)、起偏器(2)、法拉第线圈(4)、标准旋光管(5)、检偏器(6)、光电探测器(7)、放大器(8)、信号采集和信号处理单元(9)、显示器(10),起偏器(2)和检偏器(6)的光轴调至相互正交的位置,法拉第线圈(4)由频率为ω的交流电(3)驱动。
专利地区:上海
关于上述专利公告申明 : 上述专利公告转载自国家知识产权局网站专利公告栏目,不代表该专利由我公司代理取得,上述专利权利属于专利权人,未经(专利权人)许可,擅自商用是侵权行为。如您希望使用该专利,请搜索专利权人联系方式,获得专利权人的授权许可。