基于多项式反演模型的时间序列InSAR形变监测方法及装置专利登记公告
专利名称:基于多项式反演模型的时间序列InSAR形变监测方法及装置
摘要:本发明提供一种基于多项式反演模型的时间序列InSAR形变监测方法及装置,该方法包括:将某一地区N幅SAR单视复影像组合生成M幅干涉图,并生成M幅差分相位图;计算平均相干系数图,提取高相干点,对相邻的两个高相干点的差分相位进行再次差分建立多项式反演模型,求解相邻点的相对多项式形变与相对高程误差,以某一具有已知形变量和DEM误差的高相干点为参考点,分别集成得到每个高相干点的多项式形变和高程误差;得到高相干点的多项式反演模型相位,从高相干点的差分相位中减去该高相干点的多项式反演模型相位,得到残差相位;从残差相位
专利类型:发明专利
专利号:CN201210073117.3
专利申请(专利权)人:中国测绘科学研究院
专利发明(设计)人:张永红;吴宏安;张继贤;燕琴
主权项:一种基于多项式反演模型的时间序列InSAR形变监测方法,其特征在于,所述时间序列InSAR形变监测方法包括:将某一地区N幅SAR单视复影像根据小基线原则组合成M个干涉像对,生成M幅干涉图,并去除所述M幅干涉图中由数字高程模型DEM模拟得到的地形相位图,生成M幅差分相位图;通过所述M幅干涉图计算平均相干系数图,通过预设相干系数阈值从该平均相干系数图中提取高相干点,并对所述M幅差分相位图的相邻高相干点的差分相位进行再次差分,得到相邻高相干点的二次差分相位;通过所述相邻高相干点的二次差分相位建立多项式反演模型,
专利地区:北京
关于上述专利公告申明 : 上述专利公告转载自国家知识产权局网站专利公告栏目,不代表该专利由我公司代理取得,上述专利权利属于专利权人,未经(专利权人)许可,擅自商用是侵权行为。如您希望使用该专利,请搜索专利权人联系方式,获得专利权人的授权许可。