一种基于边界扫描机制的电路系统机内测试装置专利登记公告
专利名称:一种基于边界扫描机制的电路系统机内测试装置
摘要:本发明公开了一种基于边界扫描机制的电路系统机内测试装置,包括分系统级BITE、电路板级BITE,元器件级BITE;所述分系统级BITE通过系统级高速数据总线与外部数据管理系统互连,往下一级通过系统级测试和维修总线与所述电路板级BITE及其它分系统中其它被测电路板互连,所述电路板级BITE往下一级通过边界扫描测试总线与元器件级BITE及电路板中其它元器件互连。该装置可以实现卫星等航天飞行器复杂电路系统不同级别故障分层诊断与定位,并为其他航天产品电路系统机内测试装置的设计提供参考。
专利类型:发明专利
专利号:CN201210073870.2
专利申请(专利权)人:中国人民解放军国防科学技术大学
专利发明(设计)人:胡政;杨定新;李岳;王南天;宋立军
主权项:一种基于边界扫描机制的电路系统机内测试装置,其特征是包括分系统级BITE、电路板级BITE,元器件级BITE;所述分系统级BITE通过系统级高速数据总线与外部数据管理系统互连,往下一级通过系统级测试和维修总线与所述电路板级BITE及其它分系统中其它被测电路板互连,所述电路板级BITE往下一级通过边界扫描测试总线与元器件级BITE及电路板中其它元器件互连。
专利地区:湖南
关于上述专利公告申明 : 上述专利公告转载自国家知识产权局网站专利公告栏目,不代表该专利由我公司代理取得,上述专利权利属于专利权人,未经(专利权人)许可,擅自商用是侵权行为。如您希望使用该专利,请搜索专利权人联系方式,获得专利权人的授权许可。