一种自动测量目标对单光子偏振态影响的系统及测量方法专利登记公告

专利名称：一种自动测量目标对单光子偏振态影响的系统及测量方法

摘要：本发明公开一种自动测量目标对单光子偏振态影响的系统及测量方法，它由高重频窄脉冲激光源、衰减片、分光棱镜、透射式目标模块、反射式目标模块、检偏器及旋转电机组件、第一单光子探测器、一维电动平台、第二单光子探测器、单光子计数器、电机控制器和计算机组成，特别适用于自动化测量的场合。该发明基于光学偏振原理，采用双光路补偿、单光子探测等技术，设计合理可行的光机结构，利用计算机自动控制各旋转电机和电动平台，最终实现自动化测量目标对单光子偏振态影响的目的。

专利类型：发明专利

专利号：CN201210073961.6

专利申请（专利权）人：中国科学院上海技术物理研究所

专利发明（设计）人：王建宇;杨世骥;贾建军;舒嵘;何志平;吴金才;江昊

主权项：一种自动测量目标对单光子偏振态影响的系统，它由高重频窄脉冲激光源(1)、衰减片(2)、分光棱镜(3)、透射式目标模块(4)、反射式目标模块(5)、检偏器及旋转电机组件(6)、第一单光子探测器(7)、一维电动平台(8)、第二单光子探测器(9)、单光子计数器(10)、电机控制器(11)和计算机(12)组成，其特征在于：由高重频窄脉冲激光源(1)出射的激光经由衰减片(2)将每脉冲能量衰减到单光子水平，再经过分光棱镜(3)分成确定能量比的两路光信号：一路直接被第二单光子探测器(9)探测，再由单光子计数器(10)计

专利地区：上海