一种用于大前斜合成孔径雷达回波图像的几何校正方法专利登记公告

专利名称：一种用于大前斜合成孔径雷达回波图像的几何校正方法

摘要：本发明公开了一种用于大前斜合成孔径雷达(Synthetic?Aperture?Radar，SAR)几何校正的二维Sinc插值方法，属于SAR成像技术领域。本发明根据点扩展函数旁瓣的非对称特性，构造了一种新的二维Sinc插值函数，用于大前斜SAR图像的几何校正。本发明还对插值函数引入了两个参数，可以在插值的同时实现低通滤波，可以消除图像分辨率的空变性，并且能够在地距图像像素间隔较大时避免欠采样。

专利类型：发明专利

专利号：CN201210074075.5

专利申请（专利权）人：北京理工大学

专利发明（设计）人：姚迪;丁泽刚;田卫明;龙腾;李英贺;刘荦锶

主权项：一种用于大前斜合成孔径雷达回波图像的几何校正方法，其特征在于，利用频谱分析SPECAN成像算法对大前斜合成孔径雷达的回波的斜距图像进行几何校正的步骤中，采用函数h(t，τ)对斜距图像进行二维插值处理，然后得到地距图像；所述函数h(t，τ)的表达式为：h(t，τ)＝sinc(Fr·τ)sinc[Fa·(t+Kτ)]其中Fr是斜距图像在距离向的采样率，Fa为斜距图像在方位向的采样率，t为方位时间，τ为距离时间， K =

专利地区：北京