校正X射线探测器的探测器数据的方法和X射线拍摄系统专利登记公告

专利名称：校正X射线探测器的探测器数据的方法和X射线拍摄系统

摘要：本发明涉及用于校正X射线探测器(C3，C5)的探测器数据的方法，其中在当前测量中关于整个X射线探测器或者关于X射线探测器的局部区域，就由此引起的测量灵敏度衰减以及测量灵敏度衰减的恢复来说，考虑X射线探测器的射线负荷的历史，并通过取决于射线负荷历史的校正因数校正确定的测量信号。本发明还涉及特别在CT系统或C形臂系统(C1)中的X射线拍摄系统，具有探测器和读取装置，该探测器具有按照组逐信道地读取的多个探测器元件，该读取装置具有计算机辅助装置(C10)以在将探测器数据进一步处理为投影的或断层造影的图像之前校正读

专利类型：发明专利

专利号：CN201210082177.1

专利申请（专利权）人：西门子公司

专利发明（设计）人：S.卡普勒;J.基普斯;E.克拉夫特;D.尼德尔洛赫纳;T.雷切尔;C.施罗特;T.冯德哈尔

主权项：一种用于校正X射线探测器(C3，C5)的探测器数据的方法，其特征在于，在当前测量中关于整个X射线探测器或者关于X射线探测器的局部区域，就由此引起的测量灵敏度衰减以及测量灵敏度衰减的恢复来说，考虑X射线探测器(C3，C5)的射线负荷的历史，并且通过取决于射线负荷历史的校正因数来校正确定的测量信号。

专利地区：德国