基于线光源的光学系统横向放大率测量方法与装置专利登记公告

专利名称：基于线光源的光学系统横向放大率测量方法与装置

摘要：基于线光源的光学系统横向放大率测量方法与装置属于以采用光学方法为特征的计量设备领域；本方法是以线光源为目标得到线状图像，在频域中利用实际测量得到的调制传递函数值第一次达到极小值时所对应的频率与理论截止频率相等，计算得到光学系统横向放大率；本装置在该装置光轴方向与图像传感器行或列方向所确定的平面内，线光源呈弯曲状，且所述的线光源上任意位置都准焦成像到图像传感器表面；采用本发明测量光学系统横向放大率，有利于减小单次测量结果之间的误差，进而提高测量结果重复性。

专利类型：发明专利

专利号：CN201210084537.1

专利申请（专利权）人：哈尔滨工业大学

专利发明（设计）人：谭久彬;赵烟桥;刘俭

主权项：基于线光源的光学系统横向放大率测量方法，其特征在于所述方法步骤如下：a、在物方放置长度为d的线光源，方向与图像传感器的行或列方向平行；b、图像传感器对线光源成像，得到初始点扩展函数图像；保持图像传感器曝光时间不变，移除线光源，图像传感器对背景成像，得到干扰图像，并将干扰图像中灰度值的最大值作为阈值；c.将第b步得到的初始点扩展函数图像中，线光源像所在行或列的整行或整列信息提取出来，作为初始线扩展函数图像，并初始线扩展函数图像中灰度值小于第b步所得阈值的像素的灰度值修正为0，得到修正线扩展函数图像，该修正线

专利地区：黑龙江