一种非均匀凹凸表面红外发射率分布的等温测量方法专利登记公告

专利名称：一种非均匀凹凸表面红外发射率分布的等温测量方法

摘要：一种非均匀凹凸表面红外发射率分布的等温测量方法，它涉及一种红外发射率分布的测量方法。本发明的目是为了有效测量非均匀凹凸表面的红外发射率分布，保证了能顺利地对具有该类表面的元器件进行热分析。加热片通电后，观察热电偶测得的温度在数据采集卡上显示的数值，待任意两个热电偶测得的温度差值均小于测量误差，此时迅速打开上盖并用红外热像仪拍摄得到样片表面的红外热像，此过程试件表面温度还来不及变化，还是一个近似的均温表面。对所拍摄得到的热像以及热电偶测得的温度、温度计测得的环境温度数据进行处理，即可得到试件表面的红外发射率

专利类型：发明专利

专利号：CN201210085816.X

专利申请（专利权）人：哈尔滨工业大学

专利发明（设计）人：夏新林;刘华;艾青;孙创

主权项：一种非均匀凹凸表面红外发射率分布的等温测量方法，其特征在于：所述方法是按照以下步骤实现的：步骤一、采用隔热保温材料制作保温箱(1)，所述保温箱由箱体(1?1)和盖板(1?2)构成；步骤二、在箱体(1?1)的空腔内由下至上依次放置石棉垫片(2)、加热片(3)、待测试件(4)，在待测试件(4)的凹凸表面上均匀布置有多个热电偶，热电偶用于监测待测试件(4)凹凸表面的温度，加热片(3)的电源线以及热电偶线由箱体(1?1)侧壁穿出箱体(1?1)外，且加热片(3)的电源线以及热电偶线均与箱体(1?1)侧壁之间进行密封

专利地区：黑龙江