一种基于最小二乘法的线阵推扫式影像自适应辐射校正方法专利登记公告

专利名称：一种基于最小二乘法的线阵推扫式影像自适应辐射校正方法

摘要：一种基于最小二乘法的线阵推扫式影像自适应辐射校正方法，处理步骤包括：首先，定位影像中的坏扫描列并对该列左右正常列的像素灰度值进行加权平均，消除坏扫描列对后续处理的影响；其次，分析线阵推扫式影像中条带的成因和分布特点，根据用户设定的辐射校正精度值自适应判别条带列；再次，对于判别得到的条带列，提出用最小二乘法拟合计算相对辐射校正系数，并对条带列的所有像素进行相对辐射校正；最后，将相对辐射校正系数存储入库，为后续快速应用提供查询数据库。本发明的技术方案能够有效保证相对辐射校正精度和影像数据的物理意义不改变。

专利类型：发明专利

专利号：CN201210086917.9

专利申请（专利权）人：航天恒星科技有限公司

专利发明（设计）人：李海超;郝胜勇;李申阳

主权项：一种基于最小二乘法的线阵推扫式影像自适应辐射校正方法，其特征在于实现步骤如下：(1)计算线阵推扫式遥感影像的列灰度均值和标准差序列推扫式线阵相机生成的待处理影像大小为M×N个像素，对于推扫式线阵相机而言，值N也相当于推扫式线阵相机的探元个数；影像中第j列的灰度平均值mj和灰度标准差vj表示为： m j = Σ

专利地区：北京