辐射场均匀性校验定位装置专利登记公告

专利名称：辐射场均匀性校验定位装置

摘要：本发明公开了一种辐射场均匀性校验定位装置，其包括垂直连杆、底板、水平连杆、水平套筒；所述垂直连杆，底端固定在所述底板上；所述水平套筒，套设在所述垂直连杆外部，能沿所述垂直连杆轴向滑动；所述水平套筒和/或所述垂直连杆上设置有轴向定位机构，用于所述水平套筒在所述垂直连杆轴向上固定；所述水平连杆，一端固定在所述水平套筒上并垂直于所述垂直连杆，另一端用于固定电场探头；所述水平连杆的横截面积比所述垂直连杆的横截面积小。本发明的辐射场均匀性校验定位装置，能提高提高辐射场均匀性测试结果的准确性，并提高辐射场均匀性校验定

专利类型：发明专利

专利号：CN201210092277.2

专利申请（专利权）人：上海市计量测试技术研究院

专利发明（设计）人：马欣;邹子英;陆敏;龚增;王晖;张亮;田禾箐

主权项：一种辐射场均匀性校验定位装置，其特征在于，包括垂直连杆、底板、水平连杆、水平套筒；所述垂直连杆，底端固定在所述底板上；所述水平套筒，套设在所述垂直连杆外部，能沿所述垂直连杆轴向滑动；所述水平套筒和/或所述垂直连杆上设置有轴向定位机构，用于所述水平套筒在所述垂直连杆轴向上固定；所述水平连杆，一端固定在所述水平套筒上并垂直于所述垂直连杆，另一端用于固定电场探头；所述水平连杆的横截面积比所述垂直连杆的横截面积小。

专利地区：上海