一种基于计数管的辐射测试的分析方法专利登记公告

专利名称：一种基于计数管的辐射测试的分析方法

摘要：本发明涉及辐射分析测试领域，公开了一种基于计数管的辐射测试的分析方法。在本发明中，在进行实际测量之前，首先根据标准辐射值与计数值构建分段拟合函数，而不是仅构建一个拟合函数，通过上述过程，可以使得分段拟合函数更好的反映计数值与标准辐射值之间的规律，从而保证对实际测量中实际辐射值的检测精度。由于计数管对辐射的响应不仅受其型号等因素影响，还受到环境温度的影响。在本发明中，建立了多个标准温度条件下的多个分段拟合函数，进一步保证计数管的检测精度。本发明的分析误差的绝对值控制在5％以内。

专利类型：发明专利

专利号：CN201210110467.2

专利申请（专利权）人：北京华泰诺安科技有限公司;广东华泰诺安环境科技股份有限公司

专利发明（设计）人：赵喜;袁丁;吴红彦

主权项：一种基于计数管的辐射测试的分析方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一、在一个标准温度条件下获取多个标准辐射值所对应的计数管的计数值，所述标准辐射值与计数值一一对应；步骤二、根据获取的多组标准辐射值与计数值，构建分段拟合函数，构建分段拟合函数的过程为，获得计数值的分段区间以及该计数值的分段区间所对应的拟合函数，其中，每一计数值的分段区间所对应的拟合函数对已获取的标准辐射值的预测误差的绝对值在4～10％的范围内；步骤三、重复步骤一和步骤二，构建在多个标准温度条件下的多个分段拟合函数，所述标准温度条件与分段拟合

专利地区：北京