一种光谱测量装置专利登记公告

专利名称：一种光谱测量装置

摘要：本发明公开了一种光谱测量装置，包括入射狭缝、色散元件和成像元件等光学元件，在光学元件表面镀有光谱选择性薄膜，光谱选择性薄膜的选择波段与光谱测量装置的测量波段相对应，镀有光谱选择性薄膜的光学元件仅能出射薄膜选择波段内的光线，而大幅衰减光路中其他波长的光线，从而大幅降低光学系统的杂散光水平。

专利类型：发明专利

专利号：CN201210113260.0

专利申请（专利权）人：杭州远方光电信息股份有限公司

专利发明（设计）人：潘建根

主权项：一种光谱测量装置，包括入射狭缝(1)、色散元件(2)和一个或多个成像元件(3)，光线从入射狭缝(1)进入光谱测量装置，经色散元件(2)分光后，成像元件(3)将色散光会聚成像，其特征在于，在成像元件(3)的表面镀有光谱选择性薄膜(4)，所述的光谱选择性薄膜(4)的选择波段与光谱测量装置的测量波段相对应。

专利地区：浙江